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    單片機RAM測試故障方法
    來源:www.jtswb.com 發布時間:2017年11月08日

      在各種單片機應用系統中,芯片存儲器的正常與否直接關系到該系統的正常工作。為了提高系統的可靠性,對系統的可靠性進行測試是十分必要的。通過測試可以有效地發現并解決因存儲器發生故障對系統帶來的破壞問題。我們針對性地介紹了幾種常用的單片機系統RAM測試方法。

    單片機實訓集裝箱

      方法1:一種測試系統RAM的方法是分兩步來檢查,先后向整個數據區送入#00H和#FFH,再先后讀出進行比較,若不一樣,則說明出錯。


      方法2:方法1并不能完全檢查出RAM的錯誤,我們推薦一種進行RAM檢測的標準算法MARCH-G。MARCH一G算法能夠提供非常出色的故障覆蓋率,但是所需要的測試時間是很大的。MARCH-G算法需要對全地址空間遍歷3次。設地址線為”根,則CPU需對RAM訪問6×2n次。


      方法3:一種通過地址信號移位來完成測試的方法。在地址信號為全O的基礎上,每次只使地址線Ai的信號取反一次,同時保持其他非檢測地址線 Aj(i≠j)的信號維持0不變,這樣從低位向高位逐位進行;接著在地址信號為全1的基礎上,每次只使地址線Ai的信號取反一次,同時保持其他非檢測地址線Aj(i≠j)的信號維持1不變,同樣從低位向高位逐位進行。因此地址信號的移位其實就是按照2K(K為整數,較大值為地址總線的寬度)非線性尋址,整個所需的地址范圍可以看成是以全0和全1為背景再通過移位產生的。在地址變化的同時給相應的存儲單元寫入不同的偽隨機數據。在以上的寫單元操作完成后,再倒序地將地址信號移位讀出所寫入的偽隨機數據并進行檢測。設地址線為n根,則CPU只對系統RAM中的2n+2個存儲單元進行訪問。上??瞥鄙a的儀器設備安全可靠。

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